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光学仪器
ZD-NTHD-II 双向非接触式测厚仪
应用于光学产品生产领域,适用于:
①非接触式检测零件的中心厚度(可实现绝对测量)
②非接触式检测透镜的矢高
③透镜组装过程中,空气间隔的非接触式测量
④测量金属物体的表面位置
技术参数:
测量精度:1μm
量程:280mm
技术特点:
①非接触:测量不会造成元件表面损坏或变形。
②精度高:最高精度可达1μm
③速度快:测量间隔优于3秒,测量时间毫秒级
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